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方塊電阻測試儀有哪些特點？
日期：2022-01-25 10:11
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摘要：
方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜等同類物質的薄層電阻。
方塊電阻測試儀大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。
方塊電阻測試儀的特點：
1、采用大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定，低功耗；
2、以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；
3、采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；
4、體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
5、特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜；
6、探頭帶抗靜電模塊。
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