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四探針測試儀測試方阻注意事項

日期：2022-01-25 10:28

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四探針測試儀測試方阻注意事項

，寬（即為膜厚），故于是定義了方塊電阻
　　蒸發鋁膜、導電漆膜、印制電路板銅箔膜等薄膜狀導電材料，衡量它們厚度的*好方法就是測試它們的方阻。什么是方阻呢？方阻就是方塊電阻，指一個正方形的薄膜導電材料邊到邊間的電阻，如圖一所示，即邊的電阻值。方塊電阻有一個特性，即任意大小的正方形邊到邊的電阻都是一樣的，不管邊長是米，它們的方阻都是一樣，這樣方阻僅與導電膜的厚度等因素有關邊和

四探針測試儀測試注意事項

探頭由四根探針阻成，要求四根探針頭部的距離相等。四根探針由四根引聯接到方阻測試儀上，當探頭壓在導電薄膜材料上面時，方阻計就能立即顯示出材料的方阻值，具體原理是外端的兩根探針產生電流場，內端上兩根探針測試電流場在這兩個探點上形成的電勢。因為方阻越大，產生的電勢也越大，因此就可以測出材料的方阻值。需要提出的是雖然都是四端測試，但原理上與圖二所示用銅棒測方阻的方法不同。因電流場中僅少部分電流在：　?。?/span>倍以上。）要求探針頭之間的距離相等，否則就要產生等比例測試誤差。）理論上講探針頭與導電薄膜接觸的點越小越好。但實際應用時，因針狀電極容易破壞被測試的導電薄膜材料，所以一般采用圓形探針頭。　　　　、如果材料是蒸發鋁膜等，蒸發的厚度又太薄的話，形成的鋁膜不能均勻的連成一片，而是形成點狀分布，此時方塊電阻值會大大增加，與通過稱重法計算的厚度和方阻值不一樣，因此，此時就要考慮到加入修正系數。

方阻注意事項

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